傳統(tǒng)的紅外觸摸檢測(cè)模式是直角坐標(biāo)系，發(fā)射器和接收器一一對(duì)應(yīng)排成一組，射線與發(fā)射軸或接收軸垂直，通過檢測(cè)被阻擋的射線來確定觸摸點(diǎn)。但是這有明顯的局限性，因?yàn)榘l(fā)射器或接收器排列成組時(shí)，彼此之間存在間隙，在間隙中的小點(diǎn)觸摸不會(huì)遮擋射線從而無法檢測(cè)。公司專利采用多軸斜角坐標(biāo)系，通過一個(gè)發(fā)射器發(fā)射多條不同角度射線從而更加徹底縝密的填補(bǔ)觸摸屏中的遮擋死角，并引用數(shù)學(xué)理論加權(quán)計(jì)算出觸摸點(diǎn)。
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